介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀（體積表面電阻率測(cè)試儀）工作原理

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理

本測(cè)試裝置是由二只測(cè)微電容器組成。

平板電容器一般用來夾持被測(cè)樣品，園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器，配用Q表作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。

同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。

體積電阻率測(cè)試儀表面電阻率測(cè)試儀工作原理

根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻R等于施加電壓V除以通過的電流I。即   

   V

R= ---

   I

傳統(tǒng)的儀器的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過測(cè)量流過被測(cè)物體的電流I以標(biāo)定電阻的刻度來讀出電阻值。從上式可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì)有些變化，所以普通的高阻計(jì)的精度是很難提高的。BEST-121體積、表面電阻率測(cè)定儀是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以, 即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大，其測(cè)量精度很高。從理論上講其誤差可以做到零。而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

電壓擊穿試驗(yàn)儀

標(biāo)簽：

體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀

體積電阻率測(cè)試儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

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