北京介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀廠家

介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀：GDAT-A
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
  GDAT-A       
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀的詳細資料：
 一、   介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
二、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀的技術(shù)指標
  1．Q值測量
   a．Q值測量范圍：2～1023。
   b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
 c．標稱誤差
項    目
GDAT-A
頻率范圍
20kHz～10MHz；
固有誤差
≤5％±滿度值的2％；
工作誤差
≤7％±滿度值的2％；
頻率范圍
10MHz～60MHz；
固有誤差
≤6％±滿度值的2％；
工作誤差
≤8％±滿度值的2％。
   2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H
 
 3．介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀電容測量：1~ 460
項    目
GDAT-A
直接測量范圍
1～460pF
主電容調(diào)節(jié)范圍
準確度
30～500pF
150pF以下±1.5pF；
150pF以上±1％
   注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
   4．介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍
項     目
GDAT-A
頻率范圍
10kHz～50MHz
頻率分段
（虛擬）
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz

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